CX-3110AW任意波形損耗測量裝置
（產(chǎn)品示意圖，具體以實物配置為準）
◆ 簡介
CX-3110AW任意波形損耗測量裝置適用于軟磁材料動態(tài)磁性參數(shù)測量可準確測量電工鋼片（帶）、坡莫合金、非晶和納米晶等軟磁材料的
交流磁性參數(shù)：比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導(dǎo)率，以及交流磁化曲線和損耗曲線。
測試系統(tǒng)采用數(shù)字信號合成及處理技術(shù), 由高速寬頻帶雙極性功率放大器、可準確測量電工鋼片（帶）、坡莫合金、非晶和納米晶等軟磁材料的
高精密寬頻功率分析儀和工控計算機組成自動測試系統(tǒng)， 配置軟磁高頻損耗測量系統(tǒng)V8.0測量軟件，可實現(xiàn)各種復(fù)雜的磁特性測試以及數(shù)據(jù)管理。
◆ 設(shè)備特點
| 1.采用計算機控制的數(shù)字化電源和標準功率表，整個測試過程自動完成。 2.測試樣品具有閉合磁路的結(jié)構(gòu)，直接在樣品上繞線測量；樣品、磁化線圈（N1）和測量線圈（N2）共 同組成空載變壓器。 3.磁化線圈回路與標準功率表的電流端串聯(lián)，通過讀取功率表的電流峰值得到磁場峰值。 4.測量線圈接到標準功率表的電壓輸入端，通過讀取功率表的電壓有效值來計算磁感應(yīng)強度的峰值。 |
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◆ 測試項目
1. 閉路樣品
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| 將樣品、磁化線圈（N1）、測量線圈（N2）共同組成一個空載變壓器?？蓽y量環(huán)形、矩形，CD形、EE形、UU形，PQ形等具有閉合磁路結(jié)構(gòu)的試樣。 |
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材料 | 測量參數(shù) | 適用標準 |
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硅鋼、非晶、納米晶、坡莫合金和SMC軟磁復(fù)合材料等 | Ps、Bm、Hm、Ss、ua，以及交流磁化曲線和損耗曲線 | GB/T 3658-2008 GB/T 19346.1-2017 | ||
2.愛潑斯坦方圈
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愛潑斯坦方圈是用于測量電工鋼帶磁特性參數(shù)的磁化裝置。由四個線圈和空氣磁通補償線圈組成,四個線圈的每一個都包含初級磁化繞組和次級感應(yīng)繞組。測試時由初級線圈、次級線圈和作為鐵芯的電工鋼帶試樣組成一個空載變壓器。
型號 | ES-700 | ES-200 |
適用標準 | GB/T 3655和IEC 60404-2 | GB/T 10129 |
等效磁路 | 940mm | 940mm |
線圈匝數(shù) | N1=N2=700匝 | N1=N2=200匝 |
適用頻率 | 50?400Hz | 400Hz～10kHz |
樣品尺寸 | 寬30mm±0.2mm,長280～320mm±0.5mm | |
試樣質(zhì)量 | 240g?1000g | 200g?1000g |
3.SST-300磁導(dǎo)計
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| 磁導(dǎo)計是用于電工鋼帶單片樣品測量時的磁化裝置，由磁軛、勵磁線圈和極靴等組成。測試時將被測試樣放入磁導(dǎo)計中與磁軛一起構(gòu)成閉合磁路。 可根據(jù)用戶要求定制各種規(guī)格的非標磁導(dǎo)計。 |
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測量參數(shù) | 技術(shù)指標 |
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參考標準 | GB/T 13789-和IEC 60404-3 | ||
適用頻率范圍 | 50Hz?150Hz | ||
樣品尺寸 | 30mm X 300mm（單片） | ||
試樣質(zhì)量 | 10g?30g | ||
◆ 技術(shù)參數(shù)
1.硬件參數(shù)
※ 使用環(huán)境 | |
參數(shù) | 技術(shù)指標 |
輸入電源 | 單相220V，50Hz |
使用環(huán)境 | 環(huán)境溫度：23±5℃；環(huán)境濕度：30～75%RH |
外磁場干擾 | 應(yīng)絕對避免 |
熱平衡時間 | 10分鐘 |
※ 功率放大器 | |
參數(shù) | 技術(shù)指標 |
放大波形 | 任意波形 |
最大輸出功率 | 900Wp 或定制更高功率 |
頻率范圍 | 40～10kHz或定制更高頻率 |
頻率細度 | < 0.1%×當前值，頻率誤差< 0.05% |
輸出電壓 | 0～45Vp |
※功率分析儀 | |
參數(shù) | 技術(shù)指標 |
頻率測量 | 40Hz～100kHz |
電流測量 | 0～10A |
電壓測量 | 0～100V |
相位精度 | 1% ±0.05° |
2、技術(shù)指標
? 依據(jù)GB/T 3655，在50Hz、60Hz頻率下，使用625px愛潑斯坦方圈測量30×300的硅鋼標樣。 | |||||||||
被測參數(shù) | Ps(%) | Hrms(%) | Bm(%) | Hm(%) | |||||
不確定度(k=2) | 1 | 2 | 1 | 2 | |||||
重復(fù)性(恒溫) | ± 0.5 | ± 1 | ± 0.5 | ± 1 | |||||
? 依據(jù)國標GB/T 3658，在40Hz～10kHz頻率下，測量坡莫合金環(huán)形試樣 | |||||||||
被測參數(shù) | Ps(%) | μa(%) | δ(%) | Bm(%) | Hm(%) | ||||
不確定度(k=2) | 3 | 2 | —— | 1 | 1 | ||||
重復(fù)性(恒溫) | ± 1.5 | ± 1 | ± 1 | ± 0.5 | ± 0.5 | ||||
? 依據(jù)國標GB/T 19346.1，在40Hz～10kHz頻率下，測量非晶環(huán)形試樣 | |||||||||
被測參數(shù) | Ps(%) | μa(%) | Ss(%) | Bm(%) | Hm(%) | ||||
不確定度(k=2) | 3 | 3 | 3 | 1 | 1 | ||||
重復(fù)性(恒溫) | ± 1.5 | ± 1.5 | ± 1.5 | ± 0.5 | ± 0.5 | ||||
◆ SMTest測量軟件
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| ? 運行環(huán)境：測量軟件運行于Windows操作系統(tǒng)下，操作簡捷。? 系統(tǒng)語言：中文。 ? 有多種單位制式可選，以保證不同用戶各自的使用習慣。 ? 支持環(huán)形、EE、EI、CD、矩形、雙孔、BS和其它等各種形 狀樣品參數(shù)的輸入。 ? 可根據(jù)樣品外形尺寸計算樣品的有效截面積和有效磁路長度。 ? 支持一次設(shè)置多組測量條件，可同時設(shè)置固定頻率、固定Bm 和固定Hm等多種測量模式，一鍵完成多條件測試。 ? 每組一次設(shè)置1～100個測試點，支持批量快速設(shè)置。 ? 設(shè)置的測量條件保存到“保存的測量條件”，無需重復(fù)輸入測 量條件。 ? 文件系統(tǒng)采用數(shù)據(jù)庫格式，可輸出測試結(jié)果到Excel表格中。 ? 測試數(shù)據(jù)自動保存，支持歷史數(shù)據(jù)查詢、調(diào)入和刪除。 |
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?測試曲線 |
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